JEITA_ED-4701エクセル計算シート

添付写真右側中ほどの「目標耐久性に相当する試験時間」は、実際の使用条件と稼働時間に相当する、高温動作試験条件における試験時間＝目標耐久性に相当する試験時間です。
乱暴な言い方ですが、目標の耐久性のサンプル1個を高温動作試験を実施すれば、50%の確率で故障する試験時間を表しています。

実際に試験で確認したい条件が、累積故障率0.1％、信頼の水準が90%とした場合に、サンプルサイズが20pcsならば、20891時間の試験を実施して故障がゼロであれば、目標に対して合格判定できると読むことができます。

お礼

2024/07/29 17:35

4294.9hrでは、50％の確率だが、信頼度上げるために、数量を増やす、時間を長くすることで、その確率は上がるというのは感覚的に分かりました

乱暴な・・・50％の確率で　の50％はどこから来ているのでしょうか？

質問者

ご提示のシートを使いこなしている訳ではありませんが、
ざっくり言って、半導体デバイスの故障は確率的な現象なので、一定の信頼度水準を条件とすれば、サンプル数と試験に必要な時間は相反する関係があることに基づいています。
もう少々日常的な言葉に言い換えれば、一定の信頼度水準で寿命を予測するためには、試験時間を短くする必要があればサンプル数を増やす必要があり、サンプル数を増やせないのであれば試験時間を延ばす必要があるということが不可避ということです。

サンプル数×試験時間を「コンポーネントアワー」という用語で表します。次のURLに「コンポーネントアワー」の説明がありますので参照してみてください。

コンポーネントアワー：
https://gijutsu-keisho.com/technical-commentary/management_engineering-001/

お礼

2024/07/26 11:40

ある程度の信頼性水準を保って試験をするには、
・時間を増やせないのならサンプル数を増やす→（A）
・サンプル数を増やせないのなら時間を増やす→（B）
それは感覚的に分かります

質問を立てた時に添付した写真の、「右下部分にある、サンプル数と試験時間」の四角枠に表が3つあります
サンプルサイズ-テストタイム　と　テストタイム-サンプルサイズ
　の表（C）が上記の(A)(B)で述べたことに当たるというのも理解できました

（C）の表のサンプルサイズ、テストタイム　と　添付写真右側中ほどにある「目標耐久性に相当する試験時間」のこの時間との関係はなんだろう？　というのが分からない点でした


紹介して頂いたサイトですが、事前に見ました　が、【例題１】で手が止まってしまいした

質問者

まず、配布先を特定できるようにしないと「使いこなしている方」以外はまず理解できないと思います。

で配布先が判ったとしてもEXCELファイルで計算式を入力しているVBAには
パスワードプロテクトがあるので
該当するEXCELの作者（関係者）以外には内容を紐解く事がまず無理です。

素直に、
　問い合わせ先に相談するのが妥当だと思います。

【半導体信頼性技術委員会に関する問い合わせ先】
一般社団法人電子情報技術産業協会　部品・デバイス部

TEL：03-5218-1061　E-mail：device3@jeita.or.jp