このQ&Aは役に立ちましたか？
締切済み
※ ChatGPTを利用し、要約された質問です（原文：測子のコーティングについて）
測子のコーティングについて
2023/10/15 06:25
このQ&Aのポイント
- 半導体デバイスの電気的ファイナルテストにて使用している測子(プローブ)についてご質問させて頂きます。
- 測子を繰り返し使用していると、リードの半田が測子に付着して安定した測定結果が得られない問題が発生しています。
- 測子に対して半田が付着し難いようなコーティングやメッキについて情報をいただきたいです。
※ 以下は、質問の原文です
測子のコーティングについて
2007/12/13 17:13
半導体デバイスの電気的ファイナルテストにて使用している測子(プローブ)についてご質問させて頂きます。
この測子を繰り返し使用していると、リードの半田が測子に付着して安定した測定結果が得られない問題を抱えています。半田が付着することによりコンタクト状態が悪くなるようです。
つきましては、測子に対して半田が付着し難いようなコーティングやメッキ等をご存じの方がいらっしゃれば、情報をいただきたく存じます。
回答 （1件中 1～1件目)
2007/12/15 14:42
回答No.1
「付かない」ほうが良いのでしょうか。
「付いた物を取る」だったら、以下のようなものがあるようですけど。
http://www.mmm.co.jp/emsd/product/pdt_03_03.html
http://www.mipox.co.jp/jp/products/2a_cleaning/sheet.html
ちなみに、当方の場合、実装基板の検査装置になりますけど、プローブ先端は、定期的に溶剤と歯ブラシでクリーニングするというアナログな方法です。
このQ&Aは役に立ちましたか？
この質問は投稿から一年以上経過しています。
解決しない場合、新しい質問の投稿をおすすめします。
お礼
2007/12/22 11:43
アドバイスありがとうございました。
お礼が遅れ申し訳ありませんでした。
ウエハテストのプローブカードのクリーニングシートですか。
流用できそうです。早速サンプルを手配し、効果の確認をしてみます。
また、何かありましたら宜しくお願いいたします。