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2008/01/07 03:40
現在大学3年のものです。
授業の一環で、好きな試料を顕微鏡で観察するということをしました。その際に原子間力顕微鏡(AFM)と共焦点レーザ顕微鏡(OLS)を使用して同じ試料を観察をしたのですが、表面粗さなどに違いがでました。
このように差がでた原因は分解能の違いによるものなのでしょうか?そのほかにも何か原因と考えられることがありましたら教えていただけないでしょうか。
よろしくお願いいたします。
粗さの計算はJISに規定があり、それに従えば互換性のデータとなりますが、AFMのようにごく微小領域の測定ではJISの規格に従った測定は出来ません。したがって、自分でパラメータ(カットオフ周波数、ハイパスフィルタなど)を入力して、極端に言えば好きなように粗さの数値を導き出すことが出来ます。(1)の方がおっしゃるように測定原理がまったく違いますし、測定しているレンジも違います。まずはその辺からお調べになってみてはいかがでしょうか?それぞれの取扱説明書を読むだけでも結構わかってくると思いますよ。
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試料の種類とあらさにもよりますが、そもそも原理が違いますよね。その結果として生じる違いにも目を向けてください。
「分解能」の解釈自体が違ってくるはずです。
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