繰り返し精度の測定方法とは？

お尋ねの“Cm”は、参考URLの資料のp.27にある
“Cm =MPE/(2・uEI）と定義されている測定能力指数”　らしいですね。

以下の文書が、参考文献として紹介されていますので、これを入手できれば
（難解かもしれませんが）内容が判りそうです。
“測定データの評価－適合審査における測定の不確かさの役割，計量関係の
ガイドに関する合同委員会（JCGM），作業部会1（WG 1），文書106”

式の中の、MPEとは、
“測定された指示の誤差が許容限度内であるかどうかについての‘安全な’
　結論を出すために，‘拡大した’又は‘内輪の’最大許容誤差”
式の中の、uEIとは、
　？？？？？

上記の内容だけでは、理解できませんね。

質問者さんに代わって、出典（？）を提示しただけで申し訳ありません。
どなたか、内容について説明して頂けると有難いです。

Cmについては、次のURLの資料の附属書E (p.51)を参照してください。

　http://www.keikoren.or.jp/oiml/20090714-2_jp.pdf

式の中の、uEIとは、
　“測定の不確かさ”のことでした。
不確かさとは、旧来は、誤差や確度などと称された概念に近いものです。

Cmの意味は、測定の不確かさ（uEI）に比べて、製品仕様の管理幅（MPE）
が何倍あるかというようなことを示す概念のようです。

この値が、１０以上のような大きな値であれば、製品を管理するにあたって
採用している測定法は十分な信頼性があると考えてよく、
この値が、１程度の小さな値の場合は、良品を不良品と判断したり、不良品を
良品と判断するようなリスクが大きいことを示す
　　　と考えればよさそうです。

質問１回目の方ですね。

お尋ねのＣｍ値が、どういう文献等で出てきたのかヒントを入れた方が
回答が付きやすくなりますよ。

以前も回答つかなかったみたいですし。
http://en.nc-net.com/knowledge/morilog/detail/11962/